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津钠仪器（上海）有限公司的直读光谱仪系列，基于原子发射光谱学原理，通过电火花激发样品中的原子或离子，使其从基态跃迁至高能态。当这些高能态粒子回落至基态时，会释放出特定波长的光辐射，形成元素的特征光谱。光谱仪利用光学系统收集这些光谱线，并通过分光装置将其分散成不同波长的单色光，随后由光电转换器件（如CCD或CMOS检测器）将光信号转化为电信号，再由计算机控制与软件系统对电信号进行处理和分析，得出样品中各种元素的种类和含量。
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重庆纳格雅科技有限公司的BXR-606能量色散X荧光光谱仪是一款基于X射线荧光分析技术的高性能检测设备。其工作原理是通过X射线管产生高能X射线，激发样品中的原子内层电子跃迁，释放出具有特定能量的特征X射线（即X荧光）。这些荧光信号经Si-PIN探测器捕获并转换为电脉冲，脉冲幅度与光子能量成正比。通过多道脉冲分析器统计不同能量区间的脉冲数，形成能谱图，再结合软件算法实现元素定性与定量分析。该仪器无需样品预处理，可实现无损、快速检测。
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苏州博维仪器科技有限公司的ICP700T PRO电感耦合等离子体发射光谱仪，基于电感耦合等离子体技术实现多元素定量分析。其工作原理为：高频电流通过感应线圈产生高频电磁场，使氩气电离形成约10000K的高温等离子体。样品溶液经蠕动泵输送至雾化器，形成气溶胶后被载气引入等离子体炬管，在高温下经历蒸发、解离、原子化及激发过程。激发态原子跃迁至基态时释放特征光谱，光谱信号经Czerny-Turner型光路（聚焦，由进口4320刻线离子刻蚀全息光栅分光，最终被CID检测器捕获并转换为数字信号，通过专用软件分析元素浓度。
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赛默飞Nicolet iS10傅立叶红外光谱仪是一款高性能实验室型分析仪器，基于傅立叶变红外光谱（FTIR）技术工作。仪器通过中红外光源（Ever-Glo）发射红外光，经分束器（KBr/Ge优化或XT-KBr/Ge扩展中红外区）将光束分为参考光与测量光，两束光在干涉计中重新合并形成干涉图，再通过快速傅立叶变换算法转化为光谱数据。检测器采用含重氢三甘醇硫酸盐（DTGS）或液氮冷却的碲化镉汞（MCT）探测器，实现7800—350cm??波数范围的高精度检测，分辨率优于0.4cm??，扫描速度达40张光谱/秒。
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朗铎科技推出的尼通手持合金分析仪XL3t980是一款基于X射线荧光（XRF）技术的便携式金属成分检测设备，其核心工作原理为：仪器内置高性能微型X射线光管（银靶材，0-50kV管电压、0-200μA管电流）发射高能X射线，激发样品表面原子内层电子跃迁，外层电子回迁时释放特征荧光X射线。通过超大面积硅漂移探测器（1μm石墨烯窗口）捕捉荧光信号，结合定制化工业系统内置的80MHz ASICS数字信号处理器，快速解析元素种类与浓度，实现从镁（Mg）到铀（U）的周期表元素全覆盖检测。
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动态热机械分析法（Dynamic thermomechanicalanalysis，DMA)是在程序控温下，测量物质在承受振荡负荷时模量和力学阻尼随温度变化的一种方法。常用于测量黏弹性材料的力学性能与时间、温度或频率的关系。使样品处于程序控制的温度下，并施加单频或多频的振荡力，研究样品的机械行为，测定其储能模量、损耗模量和损耗因子随温度、时间与力的频率的函数关系。广泛应用于热塑性与热固性塑料、橡胶、涂料、金属与合金、无机材料、复合材料等领域。
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本产品适用于五金、精密元器件、连接器、刀刃、PCB电路板、FPC、纺织品、液晶屏、各种视觉工业检测、医学研究等外观检测及测量。具有成像清晰，立体感强及工作距离长，视野宽阔等特点，专门设计有多种照明装置，LED可调环形光源及荧光环形光源。无需外接电脑主机，直接连接HDMI高清显示器，可拍照，录像，保存，测量，导出数据，并且能准确测量出产品的尺寸（测量范围在15mm以内，分辨率为0.001mm）。
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本产品适用于五金、精密元器件、连接器、刀刃、PCB电路板、FPC、纺织品、液晶屏、各种视觉工业检测、医学研究等外观检测及测量。具有成像清晰，立体感强及工作距离长，视野宽阔等特点，专门设计有多种照明装置，LED可调环形光源及荧光环形光源。
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朗铎科技（北京）有限公司推出的尼通XL2 Plus手持式合金分析仪，是一款集便携性、精准性与高效性于一体的分析工具。其核心工作原理基于X射线荧光技术，通过2W X射线管发射高能X射线激发样品原子内层电子跃迁，产生特征性二次X射线，再由硅漂移探测器（SDD）接收并解析其能量与强度，结合智能基本参数法（FP）校正基质效应，实现从镁（Mg）到铀（U）的元素快速定量分析。该技术无需样品制备，单次测量仅需数秒，适用于现场快速决策场景。
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岱美仪器技术服务（上海）有限公司推出的 FSM413 红外激光测厚仪，是一款基于红外干涉（IR）技术的高精度非接触式测量设备，专为半导体、光伏、MEMS 等行业设计。其核心工作原理是通过红外激光束垂直照射样品表面，利用光束在材料内部及界面的多重反射形成干涉条纹，结合光谱分析算法计算薄膜或基底的厚度。该技术适用于所有红外线可穿透的材料（如硅、蓝宝石、玻璃、砷化镓等），可穿透透明或半透明介质直接测量背面结构，无需破坏样品表面。
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岱美仪器技术服务（上海）有限公司推出的 FR-pRo 薄膜厚度测量仪，是一款基于白光反射光谱（WLRS）技术的模块化、可扩展光学测量设备，专为科研与工业生产中的薄膜表征需求设计。其核心工作原理是通过分析垂直入射光在薄膜表面及基底界面反射后形成的干涉光谱，结合薄膜材料的光学常数（折射率n、消光系数k），精确计算薄膜厚度。该技术覆盖 200nm-2500nm 波长范围，支持单层至多层透明、半透明薄膜的厚度及光学参数测量，分辨率可达 0.1nm，精度优于 0.2%。
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东儒DR380升级版两用涂层测厚仪是一款集成磁性感应与电涡流技术的高精度无损检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理基于双模式传感器技术：针对磁性金属基体（如钢、铁），采用磁性测厚法，通过测量探头与基体间的磁通量变化推算非磁性涂层（如镀锌、油漆、电泳层）厚度；针对非磁性金属基体（如铝、铜、不锈钢），则切换至涡流测厚模式，利用高频电磁场感应涂层与基体的电导率差异实现精准测量。设备内置智能识别系统，可自动切换测量模式，支持连续测量与单次测量两种操作方式。
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上海阜力测量设备有限公司推出的XULM240型X射线荧光电镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱技术的高精度检测设备，专为金属基材表面镀层厚度及成分分析设计。其工作原理为：通过微聚焦X射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，比例接收器采集荧光信号并转换为计数率，结合基本参数法计算镀层厚度及元素含量。该技术实现非接触式无损测量，最小测量点可达0.09×0.09mm，支持单层、双层及三层镀层同步分析，测量范围覆盖50nm至100μm，精度在Au镀层厚度＞0.1μm时可达±5%（有标准片校准），重复精度±2.5nm（如80nm金层）。
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广东度班科技有限公司推出的DB20-CM211S基本型涂层测厚仪，是一款基于磁感应与电涡流双原理的高精度便携式检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理为：针对铁磁性基材（如钢、铁），仪器利用磁感应原理，通过探头与基体间的磁阻变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材（如铜、铝），则采用电涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过分析反馈阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，测量范围覆盖0-1250μm，分辨率达0.1μm（小于100μm时）或1μm（大于100μm时），精度在±(1-3%n)或±2.5μm范围内。
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上海遂欧仪器有限公司推出的MPO涂层测厚仪是一款高精度、智能化的便携式检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理基于磁感应与电涡流双技术融合：针对铁磁性基材，仪器利用磁感应原理，通过探头与基体间的磁通量变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材，则采用电涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过分析反馈阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，最小测量面积仅为直径φ4mm，测量范围覆盖0-2000μm，分辨率达0.1μm，精度在0-50μm范围内≤±1μm，50-1000μm范围内≤±2%，1000-2000μm范围内≤±3%。
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上海理涛自动化科技有限公司推出的LT-034Q全自动测厚仪，是一款基于机械式测量原理的高精度检测设备，专为薄膜、纸张等柔性材料的厚度测量设计。其工作原理为：通过步进丝杆驱动的上下测量头，以恒定压力（17.5±1kPa薄膜/50±1kPa纸张）垂直压合被测材料，利用高精度位移传感器实时捕捉测量头位移变化，结合PLC控制系统将物理位移转化为厚度数据。该技术可实现0-2mm（常规量程，可选0-6mm）的测量范围，分辨率达0.1μm，测量精度±00.02mm（薄膜）。
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HD5701-200粗糙度轮廓一体式测量仪一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器；采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面粗糙度和轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓进行各种参数分析。
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