工作原理
ARTUS-10 基于原子发射光谱学原理,通过电弧或火花放电激发样品表面原子至高能态。当原子跃迁回低能态时,释放特定波长的光子形成特征光谱。仪器采用双光室光学系统,将紫外波段元素(如N、P、S、C)与可见光波段元素分离分析,避免交叉干扰。科研级制冷CMOS检测器接收光谱信号后,转换为电信号传输至计算机,通过OEO(Optimal Element-Oriented)技术对每个元素独立优化参数,实现高灵敏度检测。
应用范围
高纯金属检测:检测高纯铅、铝、铜等材料中痕量杂质,检出限低至1ppm,满足半导体、功能镀膜靶材等高端制造需求。
冶金与铸造:快速分析铁基、铝基、铜基等合金成分,支持炉前质量控制与来料检验。
汽车与航空航天:检测发动机零部件、航空材料中的关键元素含量,确保材料性能符合标准。
科研与教育:提供高精度元素分析工具,支持新材料研发与教学实验。
产品技术参数
参数类别 规格
检测器 科研级制冷CMOS,可独立优化每个元素参数,OEO技术提升灵敏度
光学系统 双光室设计,紫外波段与可见光波段独立分析,避免交叉干扰
波长范围 130-700nm,覆盖全谱元素分析需求
分辨率 紫外3600条/mm,可见2400条/mm,确保光谱线清晰分离
检出限 1ppm(部分元素更低),满足痕量分析要求
稳定性 终身无需漂移校正,光室恒温设计,压铸铝合金整体光室,4级消除应力处理
分析时间 ≤10秒/次,显著提升检测效率
氩气消耗 较传统仪器节约2/3,降低运行成本
软件功能 A-Care远程云服务,支持固件升级、设备状态监控与异常自动通报
尺寸与重量 706mm×810mm×513mm,主机重量约100kg
工作条件 温度10-30℃,湿度20%-80%,电源90-260V AC 50/60Hz
产品特点
超高灵敏度与低检出限:
科研级制冷CMOS检测器结合OEO技术,对紫外波段元素(如C、P、S、N)灵敏度更高,检出限低至1ppm,满足高纯金属检测需求。
卓越稳定性与长期可靠性:
终身无需漂移校正,光室恒温设计与压铸铝合金整体光室(4级消除应力处理)确保光谱位置长期稳定,避免环境温度波动影响结果。
高效分析与成本优化:
双光室设计提升分辨率,分析时间≤10秒/次,较传统仪器提速50%以上;氩气消耗节约2/3,降低长期运行成本。
智能软件与远程服务:
A-Care远程云服务支持固件升级、设备状态监控与异常自动通报,减少现场维护需求;软件主界面简洁,图形化显示提升操作效率。
易用性与样品适应性:
强大的ASR(Aberrant Spark Removed)技术移除异常激发火花,降低样品制备要求,即使样品有裂纹也不影响分析结果;支持固体样品直接进样,简化前处理流程。