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动态图像法粒度分析仪

动态图像法粒度分析仪

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规格/型号:Litesizer DIA
品牌:安东帕
应用领域:分析检测
产地:上海 - 上海
厂家/供应商:安东帕(上海)商贸有限公司
咨询电话::18466839832(请说明信息源自“B—sports必一网”)
更新时间:2025-07-18
级别:待认证

动态图像法粒度分析仪说明介绍

 安东帕


工作原理

Litesizer DIA采用高速CMOS相机与LED光源系统,结合专利的流体聚焦技术,使样品中的颗粒在微流控芯片内形成单层分散的稳定流。相机以每秒数千帧的速度连续拍摄颗粒运动图像,通过智能图像处理算法自动识别颗粒轮廓、计算等效粒径(如面积等效直径、费雷特直径),并提取形状因子(如长径比、圆度、凸度)。仪器内置多波长光源(可选配405nm、520nm、635nm),支持从纳米级胶体到微米级粉末的宽范围粒度分析,同时可区分颗粒团聚体与独立颗粒,确保数据准确性。



应用范围

覆盖纳米材料、制药、食品、化工及环境监测等领域。在纳米材料行业,用于表征金属氧化物、量子点及碳纳米管的粒径分布与形貌均匀性;制药领域分析药物纳米晶、脂质体及微球的粒度稳定性,优化制剂工艺;食品行业评估乳液稳定性、粉末流动性及添加剂分散性;化工领域监测催化剂颗粒磨损、颜料团聚及聚合物乳胶粒径变化;环境监测中分析大气颗粒物、水体悬浮物及土壤微塑料的形貌特征。此外,仪器还支持动态监测颗粒在剪切力或温度变化下的形貌演变,助力材料性能研究。



技术参数

粒径测量范围0.01μm-3mm,分辨率达10nm;形状因子分析包括长径比(0-10)、圆度(0-1)、凸度(0-1)等超20项参数;相机帧率最高10,000fps,适应不同流速样品;光源波长支持405nm、520nm、635nm三波长切换;微流控芯片耐压达10bar,兼容水性、有机溶剂及腐蚀性样品;单次测试耗时<1分钟,数据重复性RSD<1%;软件集成ISO 13320、ASTM D4464等国际标准算法。



产品特点

动态图像法与微流控技术结合,实现单颗粒级形貌与粒径同步分析;宽波长光源与高帧率相机,覆盖纳米至毫米级颗粒的全尺度表征;智能算法自动区分团聚体与独立颗粒,消除人为误差;用户友好型软件支持实时数据可视化、多参数关联分析及自定义报告生成,显著提升研发效率。Litesizer DIA以“精准、高效、全能”为核心优势,重新定义了颗粒表征的智能化标准。

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安东帕(上海)商贸有限公司
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所属领域:
分析检测
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