工作原理:
CL-5基于电化学脉冲伏安法原理,通过探头向铜镀层与基体界面施加微弱脉冲电流,利用铜离子在电解液中的扩散特性与电化学响应信号的关联性,建立镀层厚度与电流衰减曲线的定量关系。仪器内置高精度ADC采样模块,实时采集电流变化数据,并依托智能算法模型,自动剔除基体材质、表面粗糙度等干扰因素,最终输出精准的镀层厚度值,全程无需破坏被测样品。
应用范围:
适用于印刷电路板(PCB)孔金属化镀铜层、电子连接器镀铜层、五金件装饰性镀铜层、热交换器管材内壁镀铜层及电镀工艺研发等场景。可检测电镀铜、化学镀铜、浸镀铜等工艺形成的铜镀层厚度,覆盖0.1μm-20μm测量范围,满足电子元器件、汽车零部件、航空航天材料等领域对镀层均匀性、附着力及耐腐蚀性的质量控制需求。
产品技术参数:
测量范围:0.1μm-20μm;分辨率:0.01μm;测量精度:±(2%H+0.1)μm(H为镀层厚度);测量模式:单点测量/连续扫描测量;显示方式:2.4英寸TFT彩色液晶屏,支持实时曲线显示;数据存储:1000组测量数据,支持USB导出;电源:可充电锂电池,连续工作8小时以上;外形尺寸:150mm×80mm×35mm,重量350g。
产品特点:
电化学无损检测技术,避免传统方法对样品的破坏;高精度传感器与智能算法结合,抗干扰能力强,测量重复性优于±0.05μm;一键式操作设计,3秒内完成单次测量;彩色液晶屏直观显示测量值与曲线,支持中英文双语切换;配备微型电解探头,可适应曲面、孔内等复杂形貌检测;符合IPC-TM-650及ASTM B504标准,是镀铜工艺质量控制的理想工具。