工作原理:
OmniScan SX采用相控阵超声技术,通过多晶片探头(如16/32/64晶片)发射和接收超声波束。设备内置的相控阵模块可精确控制每个晶片的激发时序,形成可动态聚焦与偏转的超声波束,实现对复杂几何结构或不规则缺陷的全方位扫描。同时,设备支持常规超声检测模式,通过单晶或双晶探头完成基础检测任务。系统搭载高速数字信号处理芯片,实时分析反射回波的幅度、时间及相位信息,生成高分辨率的A扫描、B扫描、C扫描及S扫描图像,精准定位缺陷位置并量化其尺寸。
应用范围:
适用于航空航天领域发动机叶片、涡轮盘、机匣等关键部件的缺陷检测;满足石油化工行业压力容器、管道焊缝、储罐底板的在役检验需求;可应用于电力能源领域汽轮机转子、核电设备主管道的制造质量验收;同时支持轨道交通车辆轮对、轴箱体等部件的疲劳裂纹筛查,符合ASTM E2373、ISO 18563等国际标准要求。
产品技术参数:
支持相控阵与常规超声双模式检测;最大晶片数64,频率范围0.5MHz-20MHz;脉冲重复频率(PRF)最高10kHz;数据采样率240MHz;动态深度聚焦(DDF)支持多焦点层检测;屏幕分辨率800×480像素,支持触控操作;防护等级IP65,适应-10℃至50℃工作环境;单电池续航≥6小时,支持热插拔更换。
产品特点:
一体化设计集成PAUT与UT功能,降低设备采购成本;智能校准向导简化操作流程,缩短检测准备时间;多扫描模式(线性、扇形、TOFD)灵活适配不同检测场景;高速USB 3.0与Wi-Fi实现数据实时传输与云存储;配套分析软件支持缺陷三维重构与报告自动生成,助力企业构建数字化检测管理体系。