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工作原理
CROMA PLUS采用桥式三坐标测量技术，通过X/Y/Z三轴精密导轨驱动测头系统，对工件表面进行接触式扫描或触发式采样。设备搭载高精度光栅尺实时反馈坐标位置，结合专业测量软件对采集数据进行几何建模与误差分析，最终生成包含尺寸、形状、位置公差等信息的检测报告。其非接触式激光测头（可选）可实现非破坏性快速测量。
应用范围
该设备广泛适用于汽车模具、风电叶片、航空结构件、工程机械等大型零部件的精密检测，尤其擅长处理铸件、锻件及复杂曲面工件。典型应用场景包括：发动机缸体全尺寸检测、涡轮叶片轮廓分析、大型框架结构形位公差验证等。
产品技术参数
测量范围：X/Y/Z轴最大行程可达2000×3000×1500mm（可根据需求定制）
测量精度：MPEe≤2.5+L/300μm（符合ISO 10360标准）
测头系统：支持TP20/TP200触发式测头、SP25扫描测头及激光测头
运动速度：X/Y轴最高300mm/s，Z轴最高250mm/s
软件系统：兼容PC-DMIS/CALYPSO测量软件，支持CAD导入与离线编程
产品特点
超强稳定性：全封闭花岗岩平台与高刚度桥式结构，有效抑制热变形与振动干扰，确保长期测量精度。
智能化操作：支持自动路径规划、碰撞检测及温度补偿功能，降低人工干预难度。
高兼容性：可集成多种测头与传感器，适应不同材质与表面特征的检测需求。
高效节能：采用伺服电机驱动与能量回馈技术，降低运行能耗与维护成本。
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上海 - 上海
2025年07月24日 ~ 26日
