工作原理
设备通过高压X射线管激发样品表面元素,原子内层电子受激发跃迁后释放特征荧光辐射,其能量与元素种类一一对应。美国进口SDD硅漂移探测器捕捉荧光信号后,经数字多道分析器(DPP)将模拟信号转化为数字信号,结合自主研发的FP(基本参数法)算法,消除基体效应干扰,实现多元素同步分析。例如,在分析不锈钢成分时,可精准区分铬(Cr)、镍(Ni)、钼(Mo)等元素,误差≤±0.1%。
应用范围
合金牌号鉴定:支持镁合金、铝合金、钛合金、高/中/低合金钢等200余种牌号快速识别;
质量控制:检测铜合金中铅(Pb)、锌(Zn)含量,确保符合RoHS指令;
新能源领域:分析锂电池极片铜箔/铝箔表面涂碳层厚度及碳含量均匀性;
废旧金属回收:对混合金属废料进行成分分类,提升回收效率。
技术参数
元素范围:Na11-U92,检出限低至1ppm;
含量分析:1ppm-99.99%,重复性≤0.1%;
检测效率:60-200秒完成全元素分析,支持实时刷新结果;
硬件配置:50W高效X射线管、SDD探测器(分辨率130eV±5eV)、自动切换准直器组;
样品适应性:支持块状、粉末、液体样品,最大样品尺寸Φ200mm×70mm。
产品特点
无损快速:无需制样,1-3分钟出结果,适合生产线在线检测;
高精度稳定:FP算法降低基体吸收增强效应,8小时稳定性≤0.05%;
智能操作:一键式自动测试,中英文界面切换,内置摄像头定位检测区域;
安全环保:三重辐射防护系统,符合CE安全标准,无需氩气/氦气消耗。