工作原理
光学成像系统:
无限远光学设计:物镜与目镜间采用无限远光路,消除像差,提升成像清晰度与边缘锐度。
多倍率物镜:配置 5X、10x、20x、50x、100x 等不同倍率物镜,支持快速切换,适应不同放大需求。
柯勒照明:通过聚光镜与孔径光阑调节,实现均匀、可调的照明强度,优化观察效果。
图像采集与处理:
高分辨率CCD传感器:采集显微图像并传输至计算机,支持实时显示与存储(分辨率 1920×1080)。
专业测量软件:
图像处理:自动去噪、增强对比度、边缘锐化,提升测量准确性。
尺寸测量:支持点、线、圆、角度、面积等几何参数测量,精度达 ±0.1μm。
形貌分析:通过灰度值分布或轮廓提取,分析表面粗糙度、孔隙率等特征。
观察模式切换:
明场观察:适用于透明或半透明样品(如金属薄片、塑料薄膜)的表面形貌分析。
暗场观察:通过环形光阑遮挡中心光,突出样品边缘与表面缺陷(如划痕、裂纹)。
应用范围
工业检测:
电子行业:PCB板焊点质量检测、芯片引脚间距测量、SMT元件尺寸验证。
机械制造:精密零件(齿轮、轴承、螺纹)的尺寸公差检测与表面缺陷分析。
冶金行业:金属材料晶粒度评级、夹杂物形态与分布观察。
材料分析:
复合材料:纤维排列方向、层间结合强度评估。
涂层材料:涂层厚度均匀性检测、孔隙率计算。
生物材料:细胞形态观察(需配套生物显微镜模块)。
质量控制与研发:
失效分析:通过断口形貌观察,定位材料断裂原因(如疲劳、腐蚀)。
新产品开发:验证微纳结构设计与工艺参数优化效果。
教育科研:
高校实验室:材料科学、机械工程等专业教学演示与实验研究。
科研院所:纳米材料、微电子器件等前沿领域的基础研究。
产品技术参数
参数项 XJP-6A 技术指标
光学系统 无限远色差校正光学系统
物镜倍率 5x、10x、20x、50x、100x(可选配200x)
目镜倍率 10x(宽视野目镜,视场直径20mm)
总放大倍数 50x-1000x(连续变倍)
分辨率 0.1μm(50x物镜下)
照明方式 柯勒照明,亮度可调(LED光源,寿命≥50000h)
观察模式 明场/暗场切换
图像传感器 1/2.5英寸彩色CCD,分辨率1920×1080
测量软件 支持点、线、圆、角度、面积等几何参数测量
数据输出 USB 2.0接口,支持JPG/BMP图像存储与Excel报告生成
载物台 机械移动式载物台(行程50×50mm,精度0.01mm)
电源要求 AC 220V±10%, 50Hz, 50W
主机尺寸 450×320×600 mm(长×宽×高)
主机重量 约25kg
产品特点
高精度与高清晰度:
无限远光学系统消除像差,搭配高分辨率CCD,确保图像边缘锐利、细节清晰。
测量精度达 ±0.1μm,满足工业级精密检测需求。
多功能与易操作性:
支持明场/暗场观察模式切换,适应不同样品类型。
专业测量软件界面友好,一键完成图像采集、处理与报告生成。
稳定可靠:
LED光源寿命长(≥50000h),无需频繁更换,降低维护成本。
机械载物台采用精密导轨,移动平稳,定位精准。
人性化设计:
紧凑型机身设计,节省实验室空间。
防静电涂层处理,避免样品吸附灰尘,提升观察效果。
扩展性强:
可选配偏光模块、荧光模块、金相分析软件等,扩展应用范围。
支持与第三方图像处理软件(如ImageJ)兼容,满足个性化需求。