工作原理
设备通过三轴(X/Y/Z)联动系统驱动测头接触或非接触式扫描工件表面,采集离散点坐标数据。测头信号经高精度光栅尺定位系统(分辨率≤0.1μm)转换为三维坐标值,结合PC-DMIS测量软件,通过几何算法计算工件的尺寸偏差(如直径、平面度)、形位公差(如同轴度、垂直度)及轮廓误差,支持ISO 1101、ASME Y14.5等标准判定。
应用范围
适用于手机中框、笔记本外壳、精密模具型腔、医疗器械零件(如骨科植入物)及汽车电子元件的精密检测。可完成首件全尺寸检验、过程抽检及逆向工程数据采集,助力用户实现从设计验证到量产质量控制的全流程管控。
产品技术参数
测量范围:X/Y/Z轴行程可选(如500×400×300mm至800×600×500mm)
测量精度:MPE(最大允许误差)≤1.7+L/300 μm(L为测量长度,单位mm)
测头配置:支持触发式测头(TP20/TP200)、扫描式测头(SP25)及光学测头(如激光扫描)
控制系统:UC100高速控制器,支持五轴联动扫描
软件平台:PC-DMIS Pro/Premium,兼容CAD数据导入与自动编程
防护等级:IP54(主机),适应车间环境
电源:AC 220V±10%,50Hz,功率≤2kW
产品特点
紧凑设计与高刚性:桥式结构采用花岗岩导轨与铝合金横梁,占地面积小(0.5㎡),热变形系数低,长期运行精度稳定。
动态性能优异:X/Y轴加速能力达1.5m/s?,空载移动速度≥400mm/s,显著提升中小件检测效率。
智能测头管理:支持测头自动更换架(ATC),可集成多类型测头,适应复杂工件全尺寸检测需求。
软件功能强大:PC-DMIS支持自动路径规划、虚拟测量仿真及智能误差补偿,降低人工操作难度。
合规性与扩展性:符合ISO 10360标准,可选配温度补偿系统、旋转测座等附件,适配多元检测场景。