工作原理
RA1100基于X射线穿透与衰减原理实现无损检测:
X射线发射:设备搭载微焦点X射线管,发射高能量、高分辨率的X射线束,穿透被测物体。
图像采集:射线穿透物体后,由高灵敏度探测器接收衰减信号,转换为数字图像。
智能分析:内置图像增强算法对灰度图像进行优化,突出显示气孔、裂纹等缺陷特征。
数据输出:检测结果以2D图像形式呈现,支持JPEG/BMP格式导出与存储。
应用范围
电子元器件:检测IC芯片、BGA焊球、电容电阻等内部结构,确保电气连接可靠性。
精密零件:监测钟表齿轮、医疗器械部件等微小结构缺陷,优化加工工艺。
科研教学:高校与研究所用于材料内部结构分析与失效研究,支持教学实验与研发测试。
珠宝鉴定:分析宝石内部包裹体与裂纹,辅助真伪鉴别与价值评估。
文物保护:非破坏性检测书画、陶瓷等文物内部结构,为修复提供科学依据。
产品技术参数
X射线管:电压30-90kV可调,电流0.05-0.2mA,微焦点尺寸≤5μm。
成像系统:CMOS探测器,分辨率1024×1024,像素尺寸50μm,帧率10FPS。
检测精度:最小可识别缺陷0.1mm,支持实时动态检测。
安全防护:铅房屏蔽设计,辐射剂量≤0.5μSv/h(操作位),符合GBZ 117-2022标准。
机械规格:尺寸300×250×400mm?,重量≤10kg,配便携式提手与三脚架接口。
电源要求:AC220V±10%,50/60Hz,功耗≤500W。
产品特点
便携设计:体积小巧,重量仅10kg,支持手持与三脚架固定,适应实验室与现场检测需求。
高精度成像:5μm微焦点X射线管,清晰显示微小缺陷,满足精密检测需求。
智能操作系统:触控屏集成检测流程控制,支持扫描参数预设与图像自动保存。
安全防护:双层互锁安全门、辐射监测报警、紧急停机按钮,确保操作安全。
快速检测:10秒内完成图像采集与显示,提升检测效率。
多场景适配:支持手动对焦与电动变焦,适应不同材质与尺寸检测需求。
扩展能力:预留外接显示器接口与USB数据传输功能,方便结果共享与分析。