工作原理
RE2000基于X射线穿透与衰减原理实现无损检测:
X射线发射:设备搭载微焦点X射线管,发射高能量、高分辨率的X射线束,穿透被测物体。
图像采集:射线穿透物体后,由高灵敏度探测器接收衰减信号,转换为数字图像。
智能分析:内置图像增强算法对灰度图像进行优化,突出显示气孔、裂纹、虚焊等缺陷特征,支持手动或自动缺陷标注。
数据输出:检测结果以2D图像形式呈现,支持JPEG/BMP格式导出与存储,兼容主流图像分析软件。
应用范围
电子元器件:检测IC芯片、BGA焊球、电容电阻等内部结构,确保电气连接可靠性。
PCB板检测:分析线路板层间短路、开路及焊接缺陷,优化SMT贴片工艺。
材料分析:研究复合材料、陶瓷、金属等内部结构,评估材料均匀性与缺陷分布。
科研教学:高校与研究所用于材料科学、失效分析实验教学与研发测试。
珠宝鉴定:分析宝石内部包裹体与裂纹,辅助真伪鉴别与价值评估。
产品技术参数
X射线管:电压40-130kV可调,电流0.05-0.5mA,微焦点尺寸≤5μm。
成像系统:CMOS探测器,分辨率1600×1200,像素尺寸75μm,帧率15FPS。
检测精度:最小可识别缺陷0.05mm,支持实时动态检测与静态图像采集。
安全防护:铅房屏蔽设计,辐射剂量≤0.8μSv/h(操作位),符合GBZ 117-2022标准。
机械规格:尺寸500×450×800mm?,重量≤50kg,配载物台与旋转夹具。
电源要求:AC220V±10%,50/60Hz,功耗≤1kW。
产品特点
紧凑设计:台式结构,占地面积小,适合实验室与生产线集成。
高精度成像:5μm微焦点X射线管,清晰显示微小缺陷,满足精密检测需求。
智能操作系统:触控屏集成检测流程控制,支持扫描参数预设与图像自动保存。
安全防护:双层互锁安全门、辐射监测报警、紧急停机按钮,确保操作安全。
快速检测:10秒内完成图像采集与显示,提升检测效率。
多场景适配:支持手动对焦与电动变焦,适应不同材质与尺寸检测需求。
扩展能力:预留外接显示器接口与USB数据传输功能,方便结果共享与分析。