工作原理:
SJ-2100采用接触式测量原理,内置高精度压电陶瓷传感器驱动金刚石触针(针尖半径0.5μm)沿被测表面匀速滑动。触针随表面微观几何形貌产生垂直位移,位移信号经纳米级位移传感器转换为电信号后,由32位高速DSP处理器进行实时滤波、放大及参数计算。仪器依据ISO 4287、ISO 25178双标准算法,从触针位移曲线中提取Ra、Rz、Sq、Sa等20余项二维/三维粗糙度参数,并通过3.5英寸高清彩色液晶屏同步显示三维形貌图与参数曲线,确保数据精准可溯。
应用范围:
广泛应用于精密机械加工(轴承、齿轮、模具表面光洁度检测)、半导体制造(晶圆表面粗糙度控制、光刻胶涂层均匀性分析)、航空航天(航空发动机叶片涂层质量验证、涡轮盘微结构表征)、汽车制造(发动机缸体、变速器壳体加工质量评估)及生物医疗(人工关节表面处理效果检测)等领域。支持超光滑表面(Ra<0.001μm)至粗糙加工面(Ra>10μm)的全范围检测,可替代传统触针式轮廓仪、光学干涉仪完成生产线快速筛查与实验室精密分析。
产品技术参数:
测量参数:Ra、Rz、Rq、Rt、Sq、Sz等22项国际标准参数;垂直分辨率:0.001μm;水平分辨率:0.1μm;测量范围:0-160μm;取样长度:0.08-10mm可调;驱动速度:0.05-2mm/s;重复性:≤0.3%;显示方式:3.5英寸TFT彩色液晶屏,支持三维形貌重建与多参数对比分析;数据存储:30000组测量数据,支持USB/Wi-Fi双通道传输;电源:可充电锂电池,连续工作15小时;防护等级:IP54,适应-10℃至50℃环境;尺寸:180mm×70mm×25mm,重量仅320g。
产品特点:
纳米级测量精度,重复性稳定,满足高端制造严苛需求;轻量化设计,单手可握,适配复杂曲面检测场景;智能形貌重建算法,10秒内完成三维建模与参数分析;一键式自动校准与振动补偿功能,简化操作流程;符合ISO、GB、DIN等多国标准,是表面质量检测领域的性价比优选。