工作原理
设备搭载高功率X射线管与硅漂移探测器(SDD),通过发射高能X射线激发样品表面元素,外层电子跃迁至内层填补空位时释放特征X荧光。探测器捕获这些特征射线的能量与强度后,经德恩斯自主研发的“D-EDX”算法处理,生成元素种类及含量谱图。例如,检测某电子连接器镀层时,设备可在30秒内完成铅(Pb)含量测定,检出限低至1ppm,重复性误差≤±0.5%,符合IEC 62321标准。
应用范围
覆盖多场景环保检测需求:
电子制造:验证PCB板、连接器、线缆的ROHS1.0合规性;
汽车工业:检测发动机零部件、电池外壳的镉(Cd)与六价铬(Cr??)含量;
新能源领域:评估光伏组件焊带、储能电池极耳的汞(Hg)污染风险;
行业应用:玩具安全检测、医疗器械材料认证、家电产品环保标签审核。
典型案例包括某家电企业通过设备完成空调压缩机外壳的ROHS1.0十项有害物质筛查,单次检测耗时≤2分钟,效率较传统湿法化学分析提升5倍。
技术参数
元素分析范围:硫(S)至铀(U),覆盖ROHS1.0全部限制物质;
检出限:1ppm(典型值);
分析时间:30秒-300秒可调;
重复性误差:≤±0.5%(含量≥1000ppm);
探测器类型:硅漂移探测器(SDD),能量分辨率≤160eV;
数据接口:USB/以太网输出,支持Excel/PDF报告生成。
产品特点
无损快速检测:无需制样,30秒完成单点测试,避免化学试剂污染;
高精度控制:采用进口X射线管与SDD探测器,检出限达1ppm级;
合规保障:内置IEC 62321、GB/T 26125等标准数据库,自动生成合规报告;
智能操作:10寸触摸屏实时显示元素谱图,支持多语言界面切换。