工作原理:
TR200采用接触式与激光非接触式双模测量技术。接触模式下,高精度压电陶瓷驱动金刚石触针(针尖半径0.5μm)沿被测表面滑动,触针位移信号经纳米级位移传感器转换为电信号,通过DSP数字信号处理器进行滤波与参数计算;非接触模式下,激光共焦传感器发射短波长激光束,通过表面反射光焦点位置变化计算形貌数据。仪器融合ISO 4287、ISO 25178双标准算法,可同时输出Ra、Rz、Sq、Sa等20余项二维/三维粗糙度参数,并通过5英寸高清触控屏实时显示三维形貌图与参数曲线。
应用范围:
广泛应用于半导体制造(晶圆表面粗糙度控制、光刻胶涂层均匀性检测)、精密光学(透镜表面光洁度评估、激光晶体微观形貌分析)、航空航天(航空发动机叶片涂层质量验证、涡轮盘微结构表征)、生物医疗(人工关节表面处理效果检测)及电子封装(芯片键合区金属层粗糙度优化)等领域。支持超光滑表面(Ra<0.001μm)至粗糙加工面(Ra>10μm)的全范围检测,可替代原子力显微镜(AFM)完成生产线快速筛查。
产品技术参数:
测量参数:Ra、Rz、Rq、Rt、Sq、Sz等22项国际标准参数;垂直分辨率:0.001μm;水平分辨率:0.1μm;测量范围:接触模式:0-160μm;非接触模式:0-500μm;取样长度:0.08-10mm可调;驱动速度:0.05-2mm/s;重复性:≤0.3%;显示方式:5英寸电容触控屏,支持三维形貌重建与多参数对比分析;数据存储:50000组测量数据,支持USB/Wi-Fi/蓝牙三通道传输;电源:可充电锂电池,连续工作18小时;防护等级:IP65,适应车间、实验室双环境。
产品特点:
双模测量技术,兼顾超光滑表面与粗糙面检测需求;0.001μm纳米级分辨率,达到国际高端设备精度标准;智能形貌重建算法,10秒内完成复杂曲面三维建模;一键式自动校准与振动补偿功能,简化操作流程;符合SEMI、ISO、ASTM等国际认证,是高端制造领域表面质量检测的核心工具。